Topographie einer Probe

Rasterkraftmikroskop Mercury 100 AFM

22.07.2004 Im Mercury 100 AFM für Materialwissenschaften und Nanotechnologie sind ein optisches Mikroskop und die Messmethode Digital Pulsed Force Mode integriert.

Im Mercury 100 AFM für Materialwissenschaften und Nanotechnologie sind ein optisches Mikroskop und die Messmethode Digital Pulsed Force Mode integriert. Damit ist es möglich, die Topographie einer Probe und eine Vielzahl weiterer Materialeigenschaften abzubilden. Ein hardware-linearisierter Scan-Tisch, die aktive Schwingungsdämpfung und genaue Optiken sorgen für Präzision und optimierte Strukturabbildungen. Das modulare Design des Mikroskops, das alle Standard-AFM-Modi unterstützt, erlaubt eine Aufrüstung zu weiteren Mikroskopie-Techniken (z.B. Konfokale/Raman-Mikroskopie oder Nahfeldmikroskopie). Mit den Nachbearbeitungsfunktionen des Softwarepakets lassen sich lokale Materialeigenschaften wie Adhäsion, Steifigkeit oder energetische Eigenschaften abbilden.

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